לוח בדיקת אותות כפול לכרטיסי SIM/TF/NM דגם XA6

RELIFE XA6 הוא לוח בדיקה מקצועי המיועד לטכנאי סלולר לצורך אבחון מהיר של תקלות בכרטיסי SIM , TF (MicroSD) ו- NM (Nano Memory) , ללא צורך בפירוק המכשיר. הלוח מאפשר לבדוק בו-זמנית שני כרטיסי SIM, לזהות תקלות בחריצי הכרטיסים ולוודא תקינות של קווי התקשורת והאותות, ובכך לקצר משמעותית את זמן האבחון.

ה-XA6 תואם למכשירי iPhone בעלי Dual SIM ולרוב מכשירי האנדרואיד, כולל תמיכה בכרטיסי NM של Huawei. הוא כולל נקודות בדיקה (Test Points) למדידת קווי מתח, נתונים ושעון באמצעות מולטימטר, וכן נוריות חיווי לזיהוי מהיר של מצב הכרטיסים והחיבורים. זהו כלי חיוני למעבדות סלולר המבצעות אבחון ותיקון של תקלות קליטה, זיהוי SIM ובעיות בקריאת כרטיסי זיכרון.

מפרט טכני

מותג: RELIFE

דגם: XA6

סוג מוצר: לוח בדיקת אותות לכרטיסי SIM / TF / NM

תמיכה בכרטיסים:

SIM 1

SIM 2

TF (MicroSD)

NM (Nano Memory)

בדיקת שני כרטיסי SIM בו-זמנית: כן

בדיקה ללא פירוק המכשיר: כן

תאימות:

iPhone עם Dual SIM

מכשירי Android

מכשירי Huawei עם כרטיסי NM

נוריות חיווי: LED לזיהוי מצב כרטיסי SIM

נקודות בדיקה (Test Points):

VCC

GND

CLK

RST

DATA

CMD

DATA1

DATA2

DATA3

VDD

מאפיינים:

אבחון מהיר של תקלות קליטה

זיהוי תקלות בחריץ SIM

בדיקת תקינות כרטיסי TF ו-NM

קיצור משמעותי של זמן האבחון

מתאים לעבודה עם מולטימטר

מידות:

לוח SIM/TF: כ־107 × 124 × 2.5 מ”מ

מודול NM: כ־14.2 × 42.3 × 3.2 מ”מ

משקל נטו: כ־10 גרם

מתאים ל:

מעבדות סלולר

אבחון תקלות קליטה

תיקון לוחות אם

בדיקת חריצי SIM וכרטיסי זיכרון

מותג: RELIFE